Licitații publicate de Institutul National De Cercetare Dezvoltare Pentru Fizica Materialelor

Institutul National De Cercetare Dezvoltare Pentru Fizica Materialelor este o autoritate contractantă din România care publică achiziții publice pe platforma SEAP/SICAP. Mai jos găsești licitațiile sale, monitorizate în timp real pe licitatii.app.

21

licitații active

Primește alerte gratuit 14 zile

Modul de amplificare/switch 4225-RPM Keithley sau echivalent

Furnizare de echipamente de laborator: LOT 1 - Modul de amplificare/switch 4225-RPM Keithley sau echivalent; LOT 2 - Masă antivibrații

Furnizare de echipamente de laborator: LOT 1 – Osciloscop de inalta frecventa interfatabil tip MSOX3104G- Keysight sau echivalent LOT 2 – Generator de pulsuri de curent interfatabil tip Keysight 33621A sau echivalent LOT 3 - Sistem de masurare Van der Pauw in camp magnetic si la temperaturi diferite tip RH 2030 - PhysTech sau echivalent

Cameră pentru depunerea de straturi subțiri semiconductoare din nitruri III–V, cu uniformitate foarte bună pe suprafețe de mari dimensiuni, utilizând tehnici de pulverizare în câmp magnetron (Cameră de depunere)

Pachet fotolitografie

Furnizare de echipamente de laborator: Echipament pentru caracterizarea dispozitivelor semiconductoare tip Keithley 4200A-SCS sau echivalent; Pico-ampermetru; Electrometru pentru masurat curenti mici sau foarte mici; Dispozitiv de contactare cu micromanipulatoare și răcire

Cameră de măsură la temperaturi joase cu ansamblu de pompe de vid (preliminar uscată și turbomoleculară) pentru spectrometrul FTIR Jasco

Spectrometru de Rezonanta Magnetica Nucleara (RMN) solid-state la 9.39 T (400 MHz pentru 1H)

Microscop cu efect Kerr magneto-optic (MOKE)

Instalație cu vid inalt pentru depunere de filme subtiri metalice

Sistem simultan de analiza termica TG-DSC/DTA

Îmbunătățire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilități de microscopie de forță atomică (atomic force microscopy AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy)

Cameră anodică pentru microscopul electronic prin transmisie JEM ARM 200F

Sistem criogenic de masurare a proprietatilor fizice in camp magnetic aplicat

Furnizare de substante, materiale, consumabile si alte produse similare

Aparat de estimare a structurilor

Furnizare de substante, materiale, consumabile si alte produse similare

Difractometru de raze X cu viteză mare de achiziție a datelor pentru analiza structurală a materialelor policristaline la temperaturi de la -190 °C la 600 °C

Echipament pentru măsurarea eficienței de conversie cuantică a celulelor solare

Spectrofotometru FT Raman independent

Platformă de spectrometrie în infraroşu apropiat (NIR), infraroşu (midIR) şi infraroşu îndepărtat (farIR) cu transformată Fourier cu domeniu spectral minim 10000 – 50 cm–1

Monitorizează 250.000+ licitații anual

Adio, alerte pe email!

Cu licitatii.app primești notificări cu licitațiile noi direct pe telefon, plus acces la documentația completă și analiza concurenților.

Acces pe toate platformele

Google PlayApp StoreApp Gallery

Fără obligații de contract • Acces complet la toate funcționalitățile • Anulare oricând

licitatii.app

Instalează aplicația ca să beneficiezi de o noua experiență în căutarea si găsirea de noi oportunități de afaceri.

©2026 licitatii.app