Furnizare de echipamente de laborator: Echipament pentru caracterizarea dispozitivelor semiconductoare tip Keithley 4200A-SCS sau echivalent; Pico-ampermetru; Electrometru pentru masurat curenti mici sau foarte mici; Dispozitiv de contactare cu micromanipulatoare și răcire

Cameră de măsură la temperaturi joase cu ansamblu de pompe de vid (preliminar uscată și turbomoleculară) pentru spectrometrul FTIR Jasco

Spectrometru de Rezonanta Magnetica Nucleara (RMN) solid-state la 9.39 T (400 MHz pentru 1H)

Microscop cu efect Kerr magneto-optic (MOKE)

Instalație cu vid inalt pentru depunere de filme subtiri metalice

Sistem simultan de analiza termica TG-DSC/DTA

Îmbunătățire (upgrade) microscop cu efect tunel (scanning tunneling microscopy STM) Aarhus 150 în vederea dotării cu facilități de microscopie de forță atomică (atomic force microscopy AFM), rezultând un sistem de tip SPM (scanning probe microscopy)

Cameră anodică pentru microscopul electronic prin transmisie JEM ARM 200F

Sistem criogenic de masurare a proprietatilor fizice in camp magnetic aplicat

Furnizare de substante, materiale, consumabile si alte produse similare

Aparat de estimare a structurilor

Furnizare de substante, materiale, consumabile si alte produse similare

Difractometru de raze X cu viteză mare de achiziție a datelor pentru analiza structurală a materialelor policristaline la temperaturi de la -190 °C la 600 °C

Echipament pentru măsurarea eficienței de conversie cuantică a celulelor solare

Spectrofotometru FT Raman independent

Platformă de spectrometrie în infraroşu apropiat (NIR), infraroşu (midIR) şi infraroşu îndepărtat (farIR) cu transformată Fourier cu domeniu spectral minim 10000 – 50 cm–1